北京恒奧德儀器儀表有限公司
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恒奧德教您如何選購(gòu)涂層測(cè)厚儀
測(cè)厚方法
磁性測(cè)厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量度。
渦流測(cè)厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量，此種方法較磁性測(cè)厚法度低。
聲波測(cè)厚法
內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.但般價(jià)格昂貴、測(cè)量度也不。
電解測(cè)厚法
此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，般度也不，測(cè)量起來較其他幾種麻煩。
放射測(cè)厚法
此種儀器價(jià)格非常昂貴（般在10RMB以上），適用于些特殊場(chǎng)合
選型方法
用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀，磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀般測(cè)量的厚度適用0-5毫米，這類儀器又分探頭與主機(jī)體型，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷，后者適用于測(cè)非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用聲波測(cè)厚儀來測(cè)，測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。
兩用型
體兩用型
體兩用型(4張)
儀器由德生產(chǎn)，集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的能，可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：
* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
* 鋁、鎂材料上陽(yáng)氧化膜的厚度。
* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。
* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
儀器符合家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
分體兩用型
分體兩用型(4張)
儀器特點(diǎn)
采用雙能內(nèi)置式探頭，自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式行確測(cè)量。
符合人體程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。
采用手機(jī)菜單式能選擇方式，操作十分簡(jiǎn)便。
可設(shè)定上下限值，測(cè)量結(jié)果出或符合上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。
穩(wěn)定性*，通常不校正便可長(zhǎng)期使用。
術(shù)規(guī)格
量 程： 0～2000μm ,
電 源： 兩節(jié)5號(hào)電池
標(biāo)準(zhǔn)配置
常規(guī)型
對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。
覆層厚度測(cè)量已成為業(yè)、表面程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段。為使產(chǎn)品化，我出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
隨著術(shù)的日益步，特別是近年來引入微機(jī)術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多能、度、實(shí)用化的方向了步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，度可達(dá)到1%，有了大幅度的提。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。
采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)作經(jīng)濟(jì)地行
